1.1 Этот метод охватывает анализ распределения частиц загрязнения размером 5 м или более, находящихся на поверхности небольших компонентов электронного устройства или смытых с нее. Для повторных подсчетов одного и того же образца следует ожидать максимального отклонения от двух к одному (33 % от среднего значения двух анализов). Примечание 1. Для получения удовлетворительных результатов на чистых деталях рекомендуется, чтобы все процедуры, связанные с подготовкой проб, были проводится под пылезащитным экраном.
ASTM F24-04 История
2020ASTM F24-20 Стандартный метод испытаний для измерения и подсчета загрязнения поверхностей твердыми частицами
2015ASTM F24-09(2015) Стандартный метод испытаний для измерения и подсчета загрязнения поверхностей твердыми частицами
2009ASTM F24-09 Стандартный метод измерения и подсчета загрязнения твердых частиц на поверхностях
2004ASTM F24-04 Стандартный метод измерения и подсчета загрязнения твердых частиц на поверхностях
2000ASTM F24-00 Стандартный метод измерения и подсчета загрязнения твердых частиц на поверхностях