IEC 60749-1:2002/COR1:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения.

Стандартный №

IEC 60749-1:2002/COR1:2003

Дата публикации

2003

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-1:2002/COR1:2003

сфера применения

Настоящий стандарт: Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения; Исправление 1.

IEC 60749-1:2002/COR1:2003 История

• 2003 IEC 60749-1:2002/COR1:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения.
• 2002 IEC 60749-1:2002 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения.