Из-за ограниченной проникающей способности электронного луча образцы материалов, предназначенные для наблюдения под электронным микроскопом, должны быть чрезвычайно тонкими и в большинстве случаев их толщина не должна превышать 100 нм. Электронно-микроскопическое исследование поверхностей металлических материалов может проводиться с помощью сканирующего электронного микроскопа (прямое наблюдение) или с помощью просвечивающего электронного микроскопа (косвенное наблюдение). В последнем случае необходима подготовка ответа. Пробирку обычно не разрушают. Методики изготовления реплик многочисленны и их можно разделить следующим образом: одноэтапные реплики (прямые или негативные); двухэтапная репликация (непрямая или положительная). Полировка и травление исследуемых поверхностей. Изготовление одноэтапных реплик. Изготовление двухэтапных аналогов ацетата целлюлозы и углерода.
UNI 7329-1974 История
1974UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.