UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
Электронно-микроскопическое исследование поверхностей изломов металлических материалов может проводиться с использованием сканирующего электронного микроскопа (прямое наблюдение) или с помощью просвечивающего электронного микроскопа (косвенное наблюдение). В последнем случае необходима подготовка ответа. В этой процедуре используется слепок поверхности, который точно и прозрачен для электронного луча. Методики изготовления реплик многочисленны и их можно разделить следующим образом: одноэтапные реплики (прямые или негативные); двухэтапная репликация (непрямая или положительная). Манипуляции с обследуемыми поверхностями и их очистка. Процедура изготовления реплики. Наблюдения при исследовании переломов под электронным микроскопом.
UNI 7604-1976 История
1976UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.