Эта норма дает обзор методов измерения толщины слоев металлов и неметаллов. Он включает только методы измерения толщины слоя, стандартизированные в технологии обработки поверхностей. Методы измерения, предназначенные для решения специальных задач измерения или не используемые повсеместно, не учитываются. Также описаны основы, которые важны и которые необходимо учитывать при проведении измерений толщины слоя или определении массы, относящейся к площади. Приведенные ниже определения должны служить обзором для выбора подходящих методов измерения. Более подробно эти процедуры описаны в конкретных стандартах. Методы измерения толщины покрытия могут быть как разрушающими, так и неразрушающими. Информация в таблицах 1 и 2 поможет выбрать наиболее подходящий метод для каждого проекта. Диапазоны толщины покрываются различными процессами в зависимости от материалов покрытия, основных материалов и используемых устройств. Измерение толщины тонкопленочных слоев и слоев полупроводниковой техники не является предметом настоящей НОРМЫ. Продолжение на страницах со 2 по 17. Согласно этой норме, стандартная маркировка в соотв. § 3 Закона о стандартах 1971 года неприемлем. Текстовые фрагменты, выделенные курсивом, за исключением символов, не являются стандартным текстом. Ссылки на стандарты без даты выпуска относятся к действующей в настоящее время версии. Согласно правилам процедуры ON, интерпретации и пояснения «СТАНДАРТОВ» являются подлинными только в том случае, если они изданы ON на основании решения ответственного FNA.
ONORM C 2525-1989 История
1989ONORM C 2525-1989 Измерение толщины покрытия, обследование методов