DIN EN 60749-18:2003
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза) (IEC 60749-18:2002); Немецкая версия EN 60749-18:2003.
- Стандартный №
- DIN EN 60749-18:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-18 E:2018-10
- Последняя версия
- DIN EN 60749-18 E:2018-10
- заменять
- DIN EN 60749-18:2002
- сфера применения
- Процедура испытаний, описанная в настоящем стандарте, определяет требования к испытаниям корпусных полупроводниковых интегральных схем и дискретных полупроводниковых приборов на воздействие ионизиндового излучения (суммарная доза) от источника гамма-излучения кобальта-60. Кроме того, эта процедура обеспечивает испытание на ускоренный отжиг для оценки воздействия ионизирующего излучения низкой мощности дозы на устройства.
DIN EN 60749-18:2003 История
- 1970 DIN EN 60749-18 E:2018-10
- 2003 DIN EN 60749-18:2003 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 18. Ионизирующее излучение (общая доза) (IEC 60749-18:2002); Немецкая версия EN 60749-18:2003.
- 0000 DIN EN 60749-18:2002
