DIN EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности (IEC 60749-5:2003); Немецкая версия EN 60749-5:2003
В этой части стандарта DIN EN 60749 предусмотрены испытания на долговечность в установившемся режиме температуры и влажности с целью оценки надежности негерметичных полупроводниковых устройств в корпусе во влажной среде.
DIN EN 60749-5:2003 История
0000 DIN EN 60749-5:2018
2003DIN EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности (IEC 60749-5:2003); Немецкая версия EN 60749-5:2003