BS EN 60749-5:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Испытание на долговечность при установившейся температуре и влажности.
- Стандартный №
- BS EN 60749-5:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- British Standards Institution (BSI)
- состояние
- 2017-07
- быть заменен
- BS EN 60749-5:2017
- Последняя версия
- BS EN 60749-5:2017
- заменять
- 00/203277 DC-2000 BS EN 60749:1999
- сфера применения
- В этой части стандарта IEC 60749 предусмотрены испытания на долговечность при установившейся температуре и смещении влажности с целью оценки надежности негерметичных корпусных полупроводниковых устройств во влажной среде. ПРИМЕЧАНИЕ. Данное испытание в целом соответствует стандарту IEC 60068-2-3 (отменен), но из-за особых требований к полупроводникам применяется следующий текст. Этот метод испытаний считается разрушительным. примечание: 1 МЭК 60068-2-3, Экологические испытания. Часть 2. Испытания. Испытание Ca: устойчивое состояние при влажном нагреве.
BS EN 60749-5:2003 История
- 2017 BS EN 60749-5:2017 Отслеживаемые изменения. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Испытание на срок службы при установившейся температуре и влажности
- 2003 BS EN 60749-5:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Испытание на долговечность при установившейся температуре и влажности.
