GB/T 19248-2003
Метод испытания для измерения сопротивления выводов корпуса (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 19248-2003

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2003

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 19248-2003

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод измерения сопротивления выводов корпуса. Настоящий стандарт применяется к испытанию сопротивления выводов корпуса матрицы выводов (PGA). Этот метод испытаний также применим для испытания сопротивления выводов других микроэлектронных корпусов, таких как безвыводный держатель чипа (LCC), четырехъядерный плоский корпус (QFP) и керамический двухрядный корпус (CDIP).

GB/T 19248-2003 История

• 2003 GB/T 19248-2003 Метод испытания для измерения сопротивления выводов корпуса