Настоящий стандарт описывает процедуру испытания на срок службы цифровых микросхем (биполярных, МОП- и многокристальных схем), применимую для следующих целей: а) утверждение типа или типовые испытания, б) приемочные испытания и в) оценка надежности.
IS 9807-1981 История
1981IS 9807-1981 Испытание срока службы цифровой микросхемы