IEC 60749-38:2008
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.

Стандартный №

IEC 60749-38:2008

Дата публикации

2008

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60749-38:2008

заменять

IEC 47/1943/FDIS:2007

сфера применения

Эта часть IEC 60749 устанавливает процедуру измерения восприимчивости к мягким ошибкам полупроводниковых приборов с памятью при воздействии энергичных частиц, таких как альфа-излучение. Описаны два теста; ускоренное испытание с использованием источника альфа-излучения и (неускоренное) испытание системы в реальном времени, при котором любые ошибки возникают в условиях естественного излучения, которое может быть альфа-излучением или другим излучением, например нейтронным. Чтобы полностью охарактеризовать способность интегральной схемы с памятью к мягким ошибкам, устройство необходимо протестировать на широкий спектр высоких энергий и тепловые нейтроны с использованием дополнительных методов испытаний. Этот метод испытаний может применяться к любому типу интегральных схем с запоминающим устройством.

IEC 60749-38:2008 История

• 2008 IEC 60749-38:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 38. Метод испытания на мягкие погрешности полупроводниковых приборов с памятью.