ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа. - Стандарты и спецификации PDF

ISO 17973:2002
Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.

Стандартный №
ISO 17973:2002
Дата публикации
2002
Разместил
International Organization for Standardization (ISO)
состояние
быть заменен
ISO 17973:2016
Последняя версия
ISO 17973:2016
сфера применения
Настоящий международный стандарт определяет метод калибровки шкал кинетической энергии электронных оже-спектрометров с погрешностью 3 эВ для общего аналитического использования при идентификации элементов на поверхностях. Кроме того, он определяет метод установления графика калибровки. Он применим к приборам, используемым как в прямом, так и в дифференциальном режиме, где разрешение меньше или равно 0,5 %, а амплитуда модуляции для дифференциального режима, если он используется, составляет 2 эВ от пика до пика. Он применим к спектрометрам, оснащенным ионной пушкой инертного газа или другим методом очистки проб, а также электронной пушкой, способной работать при энергии пучка 4 кэВ или выше.

ISO 17973:2002 История

  • 2016 ISO 17973:2016 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • 2002 ISO 17973:2002 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.



© 2023. Все права защищены.