IEC 60748-23-2:2002 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 23-2. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры; Сертификация производственной линии; Внутренний визуальный осмотр и специальные испытания
Применяется к системам одобрения высокого качества гибридных интегральных схем и пленочных структур. Целью испытаний является проведение визуального контроля внутренних материалов, конструкции и качества изготовления гибридных, многочиповых и многочиповых модулей микросхем.
IEC 60748-23-2:2002 История
2002IEC 60748-23-2:2002 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 23-2. Гибридные интегральные схемы и пленочные структуры; Сертификация производственной линии; Внутренний визуальный осмотр и специальные испытания