IEC 62024-1:2002 Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Чип-индуктор наногенриевого диапазона. - Стандарты и спецификации PDF

IEC 62024-1:2002
Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Чип-индуктор наногенриевого диапазона.

Стандартный №
IEC 62024-1:2002
Дата публикации
2002
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
состояние
 2017-12
быть заменен
IEC 62024-1:2008
Последняя версия
IEC 62024-1:2017
сфера применения
Настоящий международный стандарт определяет электрические характеристики и методы измерения микросхемных индукторов диапазона наногенри, которые обычно используются в высокочастотном (более 100 кГц) диапазоне.

IEC 62024-1:2002 История

  • 2017 IEC 62024-1:2017 Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Чип-индуктор наногенриевого диапазона.
  • 2008 IEC 62024-1:2008/COR1:2008 Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Исправление к индуктору наногенриевого диапазона. 1
  • 2008 IEC 62024-1:2008 Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Чип-индуктор наногенриевого диапазона.
  • 2002 IEC 62024-1:2002 Высокочастотные индуктивные компоненты. Электрические характеристики и методы измерения. Часть 1. Чип-индуктор наногенриевого диапазона.



© 2023. Все права защищены.