JEDEC JEP148-2004 Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JEP148-2004
Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей

Стандартный №
JEDEC JEP148-2004
Дата публикации
2004
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние
Последняя версия
JEDEC JEP148-2004
сфера применения
Проникновение полупроводниковой продукции во все более разнообразные сегменты приложений вместе с экономическими факторами стоимости и времени выхода на рынок требуют эффективных концепций квалификации. Это требование влияет на организацию процесса квалификации в сочетании с процессом развития/инноваций, а также на методологию квалификации. Чтобы достичь рыночных целей, необходимо практиковать упреждающие методы, такие как предварительное планирование качества, «постепенная квалификация» и подтверждение во время разработки. Результаты этой деятельности, включая использование дополнительных имеющихся знаний, станут основой для квалификации в качестве доказательства готовности продукта к выходу на рынок.

JEDEC JEP148-2004 История

  • 2004 JEDEC JEP148-2004 Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей



© 2023. Все права защищены.