JEDEC JEP140-2002
Измерение температуры полупроводниковых корпусов бисерной термопарой

Стандартный №

JEDEC JEP140-2002

Дата публикации

2002

Разместил

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

Последняя версия

JEDEC JEP140-2002

сфера применения

Этот метод определяет процедуры определения температуры компонента или его паяного соединения с течением времени, когда он подвергается температурным градиентам в результате испытаний или обработки. Он определяет соответствующие термометрические датчики, инструменты и методы крепления для измерения температуры полупроводниковых корпусов в приложениях, упомянутых в предисловии.

JEDEC JEP140-2002 История

• 2002 JEDEC JEP140-2002 Измерение температуры полупроводниковых корпусов бисерной термопарой