(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Последняя версия
JEDEC JEP123-1995
сфера применения
Характеристика параметров модели выводов полупроводниковых корпусов печально известна отсутствием повторяемости моделирования и испытаний между площадками. Отсутствие повторяемости вызвано не неточностью основного испытательного оборудования, а скорее отсутствием единообразных условий в испытательных приспособлениях и разнообразием применяемых методов. Таким образом, целью методологии испытаний, предписанной настоящим руководством, является обеспечение воспроизводимости единых условий испытаний, которые будут использоваться на различных испытательных площадках. Поскольку условия испытаний влияют на значения электрических параметров, они должны в значительной степени имитировать среду применения, в которой в конечном итоге используются полупроводниковые устройства.
JEDEC JEP123-1995 История
1995JEDEC JEP123-1995 Руководство по измерению индуктивности электронного блока и параметров модели емкости