JEDEC JEB5-A-1970 Методы измерения полупроводниковых логических вентильных микросхем - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JEB5-A-1970
Методы измерения полупроводниковых логических вентильных микросхем

Стандартный №
JEDEC JEB5-A-1970
Дата публикации
1970
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Последняя версия
JEDEC JEB5-A-1970
сфера применения
Для конфигураций полупроводниковых логических вентильных микросхем, которые используют двоичные состояния для представления цифровой информации, между входом и выходом существует алогическая связь. Логические условия можно определить по электрическим параметрам, измеренным на входе и выходе, для описания двоичных состояний. для описания состояний, но чаще всего используется напряжение. Могут использоваться напряжения или токи.

JEDEC JEB5-A-1970 История

  • 1970 JEDEC JEB5-A-1970 Методы измерения полупроводниковых логических вентильных микросхем



© 2023. Все права защищены.