JEDEC JESD22-B106C-2005 Метод испытания B106C на устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстие - Стандарты и спецификации PDF

JEDEC JESD22-B106C-2005
Метод испытания B106C на устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстие

Стандартный №
JEDEC JESD22-B106C-2005
Дата публикации
2005
Разместил
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние
 2008-04
заменить на
JEDEC JESD22-B106D-2008
сфера применения
Этот тест используется для определения того, могут ли твердотельные устройства выдерживать воздействие температуры, которой они будут подвергаться во время пайки выводов. Тепло передается через выводы в корпус устройства за счет тепла припоя на обратной стороне платы. Эта процедура не имитирует пайку волновой пайкой или воздействие тепла оплавлением на той же стороне платы, что и корпус корпуса.



© 2023. Все права защищены.