GJB 5914-2006
Методы разрушающего физического анализа полупроводниковых приборов военного назначения всех классов качества. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GJB 5914-2006
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2006
- Разместил
- Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence
- Последняя версия
- GJB 5914-2006
- сфера применения
- Этот стандарт определяет методы разрушающего физического анализа (DPA) различных полупроводниковых приборов военного качества, включенных в GJB/Z 299B-1998 «Руководство по прогнозированию надежности электронного оборудования», включая общие требования программы DPA и полупроводниковых приборов различных классов качества. Общие методы и критерии дефектов для тестирования и анализа DPA. Этот стандарт применяется к различным полупроводниковым устройствам военного качества, к которым предъявляются требования DPA.
GJB 5914-2006 Ссылочный документ
- GJB 128A-1997 Методы испытаний полупроводниковых дискретных устройств
- GJB 4027A-2006 Методы разрушающего физического анализа компонентов военной электроники
- GJB 4152-2001 Методы подготовки и контроля поперечного сечения многослойных керамических конденсаторов и аналогичных компонентов
- GJB 548A-1996 Методы и процедуры испытаний микроэлектронных устройств
- GJB/Z 299B-1998 Справочник по прогнозированию надежности электронного оборудования
GJB 5914-2006 История
- 2006 GJB 5914-2006 Методы разрушающего физического анализа полупроводниковых приборов военного назначения всех классов качества.
