2015SJ/T 2658.11-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 11: Время отклика
1970SJ 2658.11-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения импульсных характеристик
SJ 2658.11-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения импульсных характеристик было изменено на SJ/T 2658.11-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 11: Время отклика.