2015SJ/T 2658.4-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 4: Общая емкость.
1970SJ 2658.4-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения емкости
SJ 2658.4-1986 Методы измерения полупроводниковых инфракрасных диодов Методы измерения емкости было изменено на SJ/T 2658.4-2015 Метод измерения полупроводникового инфракрасного диода. Часть 4: Общая емкость..