GB/T 17574.9-2006
Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2-9: Цифровые интегральные схемы. Бланковая подробная спецификация для МОП-электрически программируемых постоянных запоминающих устройств, стираемых ультрафиолетовым светом. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 17574.9-2006

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2006

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 17574.9-2006

сфера применения

Система оценки качества электронных компонентов IEC соответствует уставу IEC и работает с разрешения IEC. Целью системы является определение процедуры оценки качества таким образом, чтобы электронные компоненты, выпущенные страной-участницей в соответствии с соответствующими спецификациями, одинаково принимались всеми другими странами-участницами без дальнейшего тестирования.

GB/T 17574.9-2006 Ссылочный документ

• GB/T 4728.12-1996 Графические символы для электрических схем. Часть 12: Элементы двоичной логики
• GB/T 4937-1995 Механические и климатические методы испытаний полупроводниковых приборов
• IEC 60068-2-17:1978 Основные процедуры экологических испытаний. Часть 2: Тесты. Тест Q: Герметизация
• IEC 60134:1961 Система предельных значений электронных ламп и клапанов и соответствующих полупроводниковых приборов

GB/T 17574.9-2006 История

• 2006 GB/T 17574.9-2006 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2-9: Цифровые интегральные схемы. Бланковая подробная спецификация для МОП-электрически программируемых постоянных запоминающих устройств, стираемых ультрафиолетовым светом.

GB/T 17574.9-2006 - Все части