DIN EN 62373:2007
Испытание на температурную стабильность металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET) (IEC 62373:2006); Немецкая версия EN 62373:2006.

Стандартный №

DIN EN 62373:2007

Дата публикации

2007

Разместил

German Institute for Standardization

Последняя версия

DIN EN 62373:2007

заменять

DIN IEC 62373:2004

сфера применения

Настоящий международный стандарт описывает процедуру испытания на стабильность температуры смещения (BT) металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET).#,,#

DIN EN 62373:2007 История

• 2007 DIN EN 62373:2007 Испытание на температурную стабильность металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET) (IEC 62373:2006); Немецкая версия EN 62373:2006.
• 0000 DIN IEC 62373:2004