BS EN 62373:2006 Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET) - Стандарты и спецификации PDF

BS EN 62373:2006
Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)

Стандартный №
BS EN 62373:2006
Дата публикации
2006
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS EN 62373:2006
заменять
04/30113801 DC-2004
сфера применения
Настоящий международный стандарт устанавливает процедуру испытания на стабильность температуры смещения (BT) металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET).

BS EN 62373:2006 История

  • 2006 BS EN 62373:2006 Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)



© 2023. Все права защищены.