IEC 62373:2006
Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)
- Стандартный №
- IEC 62373:2006
- Дата публикации
- 2006
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 62373:2006
- заменять
- IEC 47/1862/FDIS:2006
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт устанавливает процедуру испытания на стабильность температуры смещения (BT) металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET).
IEC 62373:2006 История
- 2006 IEC 62373:2006 Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET)
