IEC 60749-27:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (ММ)

Стандартный №

IEC 60749-27:2006

Дата публикации

2006

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

быть заменен

быть заменен

IEC 60749-27:2012

Последняя версия

IEC 60749-27:2006/AMD1:2012

заменять

IEC 47/1861/FDIS:2006 IEC 60749-27:2003

сфера применения

Эта часть IEC 60749 устанавливает стандартную процедуру тестирования и классификации полупроводниковых устройств в соответствии с их подверженностью повреждению или деградации в результате воздействия электростатического разряда (ESD) определенной модели машины (MM). Его можно использовать в качестве альтернативного метода испытаний на ЭСР модели человеческого тела. Цель состоит в том, чтобы предоставить надежные, повторяемые результаты испытаний на электростатическое напряжение, чтобы можно было выполнить точную классификацию. Этот метод испытаний применим ко всем полупроводниковым приборам и относится к разрушающим. ESD-тестирование полупроводниковых устройств выбирается из этого метода испытаний, модели человеческого тела (HBM – см. IEC 60749-26) или других методов испытаний серии IEC 60749. Методы испытаний MM и HBM дают схожие, но не идентичные результаты. Если не указано иное, выбран метод испытаний HBM. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Этот метод испытаний не моделирует в действительности разряд от реальных машин или металлических инструментов, поскольку в этом методе испытаний используется высокая паразитная индуктивность испытательной цепи, тогда как реальные машины и металлические инструменты, время нарастания разряда которых составляет около 100 пс, не имеют индуктивности. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Некоторые разделы данного метода испытаний соответствуют МЭК 61340-3-2.

IEC 60749-27:2006 История

• 2012 IEC 60749-27:2006/AMD1:2012 Поправка 1. Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (ММ).
• 2012 IEC 60749-27:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (ММ)
• 2006 IEC 60749-27:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD). Модель машины (ММ)
• 2003 IEC 60749-27:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 27. Испытание чувствительности к электростатическому разряду (ESD); Модель машины (ММ)