IEC 60749-35:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
- Стандартный №
- IEC 60749-35:2006
- Дата публикации
- 2006
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Последняя версия
- IEC 60749-35:2006
- заменять
- IEC 47/1863/FDIS:2006 IEC/PAS 62191:2000
- сфера применения
- Эта часть IEC 60749 определяет процедуры проведения акустической микроскопии электронных компонентов в пластиковых капсулах. Этот стандарт представляет собой руководство по использованию акустической микроскопии для обнаружения аномалий (расслоения, трещины, пустоты в пресс-форме и т. д.) воспроизводимым и неразрушающим способом в пластиковых упаковках.
IEC 60749-35:2006 История
- 2006 IEC 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
