В этой части стандарта IEC 61967 представлена процедура испытаний, определяющая метод оценки компонентов ближнего электрического, магнитного или электромагнитного поля на поверхности интегральной схемы (ИС) или вблизи нее. Эта диагностическая процедура предназначена для архитектурного анализа микросхем, такого как планирование помещения и оптимизация распределения электроэнергии. Эта процедура тестирования применима к измерениям с ИС, установленной на любой печатной плате, доступной для сканирующего зонда. Для сравнения излучений сканирования поверхности между различными микросхемами следует использовать стандартизированную испытательную плату, определенную в IEC 61967-1. Этот метод позволяет получить подробную картину источников радиочастот (РЧ) внутри микросхемы. Разрешение измерения определяется возможностями измерительного зонда и точностью позиционера зонда. Этот метод предназначен для использования в диапазоне частот от 10 МГц до 1 ГГц. Расширенные верхние пределы частоты возможны при использовании существующей технологии датчиков, но выходят за рамки данной спецификации. Зонд механически сканируется в соответствии с запрограммированным шаблоном в плоскости, параллельной или перпендикулярной поверхности ИС. Данные обрабатываются на компьютере, чтобы обеспечить цветное представление напряженности поля на частоте сканирования.
BS DD IEC/TS 61967-3:2005 История
2014BS PD IEC/TS 61967-3:2014 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Измерение излучаемых выбросов. Метод сканирования поверхности
2006BS DD IEC/TS 61967-3:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования.
BS DD IEC/TS 61967-3:2005 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования. было изменено на BS PD IEC/TS 61967-3:2014 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Измерение излучаемых выбросов. Метод сканирования поверхности.