Этот метод испытаний представляет собой стандартную процедуру неразрушающего радиографического контроля полупроводниковых приборов, электронных компонентов и материалов, используемых для изготовления этих изделий. Этот метод испытаний охватывает радиографическое исследование этих изделий на предмет возможных дефектов, таких как посторонние материалы внутри герметичного корпуса, неправильные внутренние соединения, пустоты в материалах, используемых для монтажа элементов, или в уплотнительном стекле, или физические повреждения. Уровень качества и критерии приемки испытуемых образцов должны быть указаны в рабочем чертеже, заказе на поставку или договоре. Этот стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ANSI/ASTM E1161:1996 История
1996ANSI/ASTM E1161:1996 Метод испытаний радиологического исследования полупроводников и электронных компонентов