ANSI/ASTM E1039:1999 Метод испытаний для калибровки и определения характеристик наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора в условиях глобального облучения
Этот метод испытаний предназначен для использования для калибровки и определения характеристик первичных наземных кремниевых фотоэлектрических эталонных элементов в соответствии с глобальным эталонным спектральным распределением излучения, определенным в таблицах E892. Рекомендуемые физические требования для этих эталонных ячеек описаны в Спецификации E1040. Эталонные элементы в основном используются для определения электрических характеристик фотоэлектрического устройства. Первичные глобальные эталонные ячейки калибруются на открытом воздухе при естественном солнечном свете с помощью пиранометра, который используется для измерения глобального излучения. Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента, который демонстрирует линейную характеристику тока короткого замыкания в зависимости от освещенности в предполагаемом диапазоне использования, как определено в методе испытаний E1143. Этот метод испытаний применяется только для калибровки моно- или поликристаллических кремниевых эталонных ячеек, изготовленных с одним фотоэлектрическим переходом. Аналогичного или эквивалентного стандарта ISO не существует. Этот стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ANSI/ASTM E1039:1999 История
1999ANSI/ASTM E1039:1999 Метод испытаний для калибровки и определения характеристик наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора в условиях глобального облучения