Этот метод испытаний охватывает калибровку и определение характеристик вторичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов для достижения желаемого эталонного спектрального распределения излучения. Рекомендуемые физические требования к этим эталонным элементам описаны в Спецификации E 1040. Эталонные элементы в основном используются при определении электрических характеристик фотоэлектрического устройства. Вторичные эталонные ячейки калибруются в помещении с использованием имитации солнечного света или на открытом воздухе при естественном солнечном свете по отношению к первичной эталонной ячейке, предварительно откалиброванной по тому же желаемому эталонному спектральному распределению освещенности. Вторичные эталонные ячейки, откалиброванные в соответствии с этим методом испытаний, будут иметь ту же радиометрическую прослеживаемость, что и первичная эталонная ячейка, используемая для калибровки. Следовательно, если первичная эталонная ячейка прослеживается до мирового радиометрического эталона (WRR, см. метод испытаний E 816), результирующая вторичная эталонная ячейка также будет прослеживаться до WRR. Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента, который демонстрирует линейную характеристику тока короткого замыкания в зависимости от освещенности в предполагаемом диапазоне использования, как определено в методе испытаний E 1143. Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента. который был изготовлен с использованием одного фотоэлектрического перехода. Этот стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ANSI/ASTM E1362:1999 История
1999ANSI/ASTM E1362:1999 Метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора