ANSI/ASTM E1125:1999 Метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных ячеек без концентратора с использованием табличного спектра - Стандарты и спецификации PDF

ANSI/ASTM E1125:1999
Метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных ячеек без концентратора с использованием табличного спектра

Стандартный №
ANSI/ASTM E1125:1999
Дата публикации
1999
Разместил
American National Standards Institute (ANSI)
Последняя версия
ANSI/ASTM E1125:1999
сфера применения
Этот метод испытаний предназначен для использования для калибровки и определения характеристик первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов по желаемому эталонному спектральному распределению освещенности, такому как таблицы G 173. Рекомендуемые физические требования к этим эталонным элементам описаны в Спецификации E 1040. Эталонные элементы: в основном используется при определении электрических характеристик фотоэлектрических устройств. Первичные фотоэлектрические эталонные элементы калибруются при естественном солнечном свете с использованием относительного спектрального отклика элемента, относительного спектрального распределения солнечного света и табличного эталонного спектрального распределения освещенности. Этот метод испытаний требует использования пиранометра, откалиброванного в соответствии с методом испытаний E 816, который требует использования пиргелиометра, соответствующего Всемирному радиометрическому стандарту (WRR). Таким образом, эталонные ячейки, откалиброванные в соответствии с этим методом испытаний, прослеживаются до WRR. Этот метод испытаний представляет собой метод, который можно использовать вместо процедур, описанных в методе испытаний E 1362. Этот метод испытаний удобен тем, что позволяет охарактеризовать эталонную ячейку в любом спектре, для которого доступны табличные данные. Выбор конкретного эталонного спектра остается за пользователем. Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента, который показывает линейную зависимость его тока короткого замыкания от освещенности в предполагаемом диапазоне использования, как определено в методе испытаний E 1143. Этот метод испытаний применяется только для калибровки фотоэлектрического элемента. эталонный элемент, изготовленный с одним фотоэлектрическим переходом. Этот стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.

ANSI/ASTM E1125:1999 История

  • 1999 ANSI/ASTM E1125:1999 Метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных ячеек без концентратора с использованием табличного спектра



© 2023. Все права защищены.