GB/T 2423.1-2001
Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания А: Холод. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 2423.1-2001

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2001

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

состояние

быть заменен 2009-10

быть заменен

GB/T 2423.1-2008

Последняя версия

GB/T 2423.1-2008

сфера применения

Испытание при низкой температуре, предусмотренное настоящим стандартом, применимо как к неизлучающим, так и к теплорассеивающим образцам. Для тестовых образцов, не рассеивающих тепло, тесты Aa и Ab не отклоняются от ранее опубликованных стандартов. Настоящий стандарт ограничивается оценкой или определением пригодности электрических и электронных изделий (включая компоненты, оборудование и другие изделия) к хранению и (или) использованию в низкотемпературных условиях окружающей среды. Это низкотемпературное испытание не может использоваться для оценки устойчивости испытуемого образца к изменениям температуры и способности работать во время изменений температуры, в этом случае следует использовать Испытание N: Метод испытания с изменением температуры. Методы низкотемпературных испытаний разделены на следующие три категории: Низкотемпературное испытание нерадиационных испытательных образцов: 　——Испытание Aa: внезапное изменение температуры ---- Испытание Ab: постепенное изменение температуры Испытание образца для испытания на рассеивание тепла при низкой температуре: 　——Объявление о тестировании: градиент температуры. Метод испытаний обычно используется для тестовых образцов, температура которых стабилизируется во время испытания на кондиционирование. Продолжительность испытания рассчитывается с момента стабилизации температуры испытуемого образца. В особых случаях, если при условном испытании испытуемый образец не достигает стабильной температуры, продолжительность испытания должна исчисляться от момента достижения испытательной камерой (камерой) заданной температуры испытания. В соответствующих технических условиях должны быть предусмотрены: а) скорость изменения температуры в испытательной камере (камере); б) время помещения испытуемого образца в испытательную камеру (камеру); в) время, в течение которого испытуемый образец подвергается воздействию условий испытания; г) Тестовый образец включен или время загрузки. В этих условиях разработчики соответствующих спецификаций могут выбрать вышеуказанные 4 параметра в соответствии с директивой GB/T 2424.1-1989 (пересмотр с учетом вышеуказанных условий находится на рассмотрении).

GB/T 2423.1-2001 История

• 2008 GB/T 2423.1-2008 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания A: Холод.
• 2001 GB/T 2423.1-2001 Экологические испытания электрических и электронных изделий. Часть 2. Методы испытаний. Испытания А: Холод.

GB/T 2423.1-2001 - Все части