Эта часть IEC 60793 устанавливает единые требования к механическим характеристикам скручивания волокна или скрытой кривизны в оптических волокнах без покрытия. Скручивание волокна было определено как важный параметр для минимизации потерь на сращивании оптических волокон при использовании сварочных аппаратов с пассивным выравниванием или сварочных аппаратов с массовым выравниванием с активным выравниванием. Для измерения скручивания волокон в непокрытых оптических волокнах используются два метода, представленные соответственно в Приложениях А и В: · метод А: микроскопия бокового вида; · метод Б: рассеяние лазерного луча. Процедура микроскопии вида сбоку измеряет радиус кривизны непокрытого волокна путем определения величины отклонения, возникающего при вращении неподдерживаемого конца волокна вокруг оси волокна. Процедура рассеяния лазерного луча измеряет скручивание волокна в оптическом волокне путем рассеяния лазерного луча. Зная максимальное отклонение волокна и расстояние свеса от крепления волокна до точки измерения, радиус кривизны волокна можно рассчитать на основе простой круговой модели, вывод которой приведен в приложении C. Оба метода применимы для Оптические волокна типов A1, A2, A3 и B. Метод А — это эталонный метод тестирования, используемый для разрешения споров.
IEC 60793-1-34:2001 История
0000 IEC 60793-1-34:2021 RLV
2006IEC 60793-1-34:2006 Оптические волокна. Часть 1-34. Методы измерения и процедуры испытаний. Скручивание волокна.
2001IEC 60793-1-34:2001 Волокна оптические. Часть 1-34. Методы измерений и процедуры испытаний; Скручивание волокон