ANSI/IEEE 300:1988
Методики испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц

Стандартный №

ANSI/IEEE 300:1988

Дата публикации

1988

Разместил

American National Standards Institute （ANSI)

Последняя версия

ANSI/IEEE 300:1988

сфера применения

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы излучения, которые используются для обнаружения заряженных частиц с помощью спектроскопии высокого разрешения.

ANSI/IEEE 300:1988 История

• 1988 ANSI/IEEE 300:1988 Методики испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц