IEC PAS 62162:2000 Метод испытания моделей наведенных заряженных устройств порогов стойкости к электростатическому разряду микроэлектронных компонентов - Стандарты и спецификации PDF

IEC PAS 62162:2000
Метод испытания моделей наведенных заряженных устройств порогов стойкости к электростатическому разряду микроэлектронных компонентов

Стандартный №
IEC PAS 62162:2000
Дата публикации
2000
Разместил
International Electrotechnical Commission (IEC)
Последняя версия
IEC PAS 62162:2000

IEC PAS 62162:2000 История

  • 2000 IEC PAS 62162:2000 Метод испытания моделей наведенных заряженных устройств порогов стойкости к электростатическому разряду микроэлектронных компонентов



© 2023. Все права защищены.