ISO 14975:2000
Химический анализ поверхности - Форматы информации
- Стандартный №
- ISO 14975:2000
- Дата публикации
- 2000
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- Последняя версия
- ISO 14975:2000
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт определяет формат, дополняющий ISO 14976 для передачи данных для создания, расширения и пересмотра базы данных спектров химического анализа поверхности. Формат применяется к спектральным данным электронной оже-спектроскопии (AES) и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
ISO 14975:2000 История
- 2000 ISO 14975:2000 Химический анализ поверхности - Форматы информации
