Эта часть ISO 11254 определяет метод испытаний для определения порога повреждения оптических поверхностей, вызванного однократным лазерным излучением (LIDT). Эта процедура испытаний применима ко всем комбинациям различных длин волн лазера и длин импульсов. Однако сравнение данных о пороговых значениях лазерного повреждения может ввести в заблуждение, если измерения не проводились при идентичных длинах волн, длительности импульса и диаметрах луча. Применение этой части ISO 11254 временно ограничено необратимым повреждением оптических поверхностей. П р и м е ч а н и е — Примеры единиц измерения и масштабирования пороговых значений лазерно-индуцированного повреждения приведены в приложении С. ПРЕДУПРЕЖДЕНИЕ — Экстраполяция данных о повреждении может привести к неточным или неправильным расчетным результатам и к завышению LIDT. В случае токсичных материалов (например, ZnSe, GaAs, CdTe, ThF4, халькогенды, Be, Cr, Ni) это может привести к серьезной опасности для здоровья.
BS EN ISO 11254-1:2000 История
2011BS EN ISO 21254-1:2011 Лазеры и лазерное оборудование. Методы испытаний порога лазерно-индуцированного повреждения. Определения и общие принципы
2000BS EN ISO 11254-1:2000 Лазеры и лазерное оборудование. Определение порога лазерного повреждения оптических поверхностей. Тест 1 на 1.
BS EN ISO 11254-1:2000 Лазеры и лазерное оборудование. Определение порога лазерного повреждения оптических поверхностей. Тест 1 на 1. было изменено на BS EN ISO 21254-2:2011 Лазеры и лазерное оборудование. Методы испытаний порога лазерно-индуцированного повреждения. Определение порога.
BS EN ISO 11254-1:2000 Лазеры и лазерное оборудование. Определение порога лазерного повреждения оптических поверхностей. Тест 1 на 1. было изменено на BS EN ISO 21254-1:2011 Лазеры и лазерное оборудование. Методы испытаний порога лазерно-индуцированного повреждения. Определения и общие принципы.