JIS K 3850-3:2000
Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.

Стандартный №

JIS K 3850-3:2000

Дата публикации

2000

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS K 3850-3:2000

сфера применения

1.1 Измеряемые материалы Настоящий стандарт определяет метод с использованием просвечивающего электронного микроскопа для измерения концентрации асбестовых структур в окружающем воздухе. …

JIS K 3850-3:2000 История

• 2000 JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.