DIN 50440:1998 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Измерение времени жизни носителей в монокристаллах кремния. Время жизни рекомбинационных носителей при малой инжекции методом фотопроводимости.
Способ согласно документу охватывает определение времени жизни рекомбинационных носителей при низкой инжекции методом фотокондуктивного распада.
DIN 50440:1998 История
1998DIN 50440:1998 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Измерение времени жизни носителей в монокристаллах кремния. Время жизни рекомбинационных носителей при малой инжекции методом фотопроводимости.