DIN 50440:1998 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Измерение времени жизни носителей в монокристаллах кремния. Время жизни рекомбинационных носителей при малой инжекции методом фотопроводимости. - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50440:1998
Испытание материалов для полупроводниковой техники. Измерение времени жизни носителей в монокристаллах кремния. Время жизни рекомбинационных носителей при малой инжекции методом фотопроводимости.

Стандартный №
DIN 50440:1998
Дата публикации
1998
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
Последняя версия
DIN 50440:1998
сфера применения
Способ согласно документу охватывает определение времени жизни рекомбинационных носителей при низкой инжекции методом фотокондуктивного распада.

DIN 50440:1998 История

  • 1998 DIN 50440:1998 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Измерение времени жизни носителей в монокристаллах кремния. Время жизни рекомбинационных носителей при малой инжекции методом фотопроводимости.



© 2023. Все права защищены.