JIS R 1633:1998
Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе

Стандартный №

JIS R 1633:1998

Дата публикации

1998

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS R 1633:1998

сфера применения

Настоящий стандарт распространяется на образцы, не находящиеся в сухом состоянии. С помощью сканирующего электронного микроскопа (далее - СЭМ), который не имеет специальных функций и конструкций, позволяющих наблюдать летучие и непроводящие образцы, и может использоваться при давлении 10 Па или менее в камере для образцов. определяет методы подготовки проб для наблюдения с помощью СЭМ мелких керамических сыпучих материалов и порошковых материалов.

JIS R 1633:1998 История

• 1998 JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе