JIS K 0132:1997
Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Стандартный №

JIS K 0132:1997

Дата публикации

1997

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS K 0132:1997

сфера применения

Этот стандарт определяет общие вопросы использования сканирующего электронного микроскопа для наблюдения и анализа морфологии мельчайших участков на поверхности образца с использованием преимущественно вторичных электронов.

JIS K 0132:1997 История

• 1997 JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии