BS 7725-2.1:1994 Оценка и плановое тестирование в отделениях медицинской визуализации. Тесты на постоянство. Метод для процессоров пленки - Стандарты и спецификации PDF

BS 7725-2.1:1994
Оценка и плановое тестирование в отделениях медицинской визуализации. Тесты на постоянство. Метод для процессоров пленки

Стандартный №
BS 7725-2.1:1994
Дата публикации
1994
Разместил
British Standards Institution (BSI)
Последняя версия
BS 7725-2.1:1994
заменять
88/56155 DC-1989
сфера применения
Настоящий технический отчет распространяется на те компоненты РЕНТГЕНОВСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ, которые обрабатывают РАДИОГРАФИЧЕСКУЮ ПЛЕНКУ и другие фотографические материалы в рентгеновских установках, в которых обрабатываются любые из следующих радиографических или фотографических материалов:  ——все типы ЭКРАННЫХ ПЛЕНОК;  ——НЕЭКРАННЫЙ ФИЛЬМ;  ——фотопленка для НЕПРЯМОЙ РАДИОГРАФИИ, используемая для регистрации · ВЫХОДНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ РЕНТГЕНОВСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ, · других передаваемых РАДИОЛОГИЧЕСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ;  ——фотоматериал для копирования РАДИОГРАММ;  ——фотографический материал для создания постоянных изображений информации, записанной электронными средствами и представленной на кинескопах, например: печатных камерах, или напечатанных другими электронными средствами, например: лазером; используется в диагностическом оборудовании, например, для общей РЕКОНСТРУКТИВНОЙ ТОМОГРАФИИ, цифровой визуализации, ультразвука, ЯДЕРНОЙ МЕДИЦИНЫ, магнитного резонанса. Метод, описанный в настоящем техническом отчете, предназначен в первую очередь для автоматических ПЛЕНОЧНЫХ ПРОЦЕССОРОВ, но может быть адаптирован для тестирования оборудования для ручной обработки. Настоящий технический отчет является частью серии Частных публикаций (стандартов и технических отчетов), в которых описываются методы испытаний постоянства свойств различных подсистем диагностического РЕНТГЕНОВСКОГО ОБОРУДОВАНИЯ, как описано в IEC 1223-1.

BS 7725-2.1:1994 История

  • 1994 BS 7725-2.1:1994 Оценка и плановое тестирование в отделениях медицинской визуализации. Тесты на постоянство. Метод для процессоров пленки



© 2023. Все права защищены.