DIN 50441-1:1996 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение геометрических размеров полупроводниковых пластин. Часть 1. Толщина и изменение толщины.
Метод позволяет определять толщину полупроводниковых пластин круглой или D-образной формы с любым качеством поверхности с использованием как бесконтактных, так и контактных приборов для измерения толщины.
DIN 50441-1:1996 История
1996DIN 50441-1:1996 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Определение геометрических размеров полупроводниковых пластин. Часть 1. Толщина и изменение толщины.