JIS H 0604:1995
Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада

Стандартный №

JIS H 0604:1995

Дата публикации

1995

Разместил

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Последняя версия

JIS H 0604:1995

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод измерения времени жизни импульсной обратной вязкости (далее называемого «время жизни массы» или τB) неосновных носителей носителей в монокристалле кремния с использованием метода фотокондуктивного затухания с использованием цепи постоянного тока. Монокристалл, подлежащий измерению, должен иметь однородный состав и удельное сопротивление 1 Ом·см или более.

JIS H 0604:1995 История

• 1995 JIS H 0604:1995 Измерение времени жизни неосновных носителей заряда в монокристалле кремния методом фотопроводящего распада