ANSI/EIA/TIA 455-188:1991
Предлагаемый новый FOTP, низкотемпературное тестирование компонентов оптоволокна

Стандартный №

ANSI/EIA/TIA 455-188:1991

Дата публикации

1991

Разместил

American National Standards Institute （ANSI)

Последняя версия

ANSI/EIA/TIA 455-188:1991

сфера применения

Предназначен для выдержки образца в условиях окружающей среды при длительно низкой температуре (холоде).

ANSI/EIA/TIA 455-188:1991 История

• 1991 ANSI/EIA/TIA 455-188:1991 Предлагаемый новый FOTP, низкотемпературное тестирование компонентов оптоволокна