ANSI/EIA/TIA 455-173:1990 Измерение геометрии покрытия методом вида сбоку оптического волокна - Стандарты и спецификации PDF

ANSI/EIA/TIA 455-173:1990
Измерение геометрии покрытия методом вида сбоку оптического волокна

Стандартный №
ANSI/EIA/TIA 455-173:1990
Дата публикации
1990
Разместил
American National Standards Institute (ANSI)
Последняя версия
ANSI/EIA/TIA 455-173:1990
сфера применения
Описывает процедуру измерения поляризационно-модовой дисперсии (PMD) одномодовых оптических волокон. Этот стандарт был вынесен на публичное рассмотрение в выпуске Standards Action от 5 мая 2000 г. Он представляется повторно в связи с существенными изменениями в тексте.

ANSI/EIA/TIA 455-173:1990 История

  • 1990 ANSI/EIA/TIA 455-173:1990 Измерение геометрии покрытия методом вида сбоку оптического волокна



© 2023. Все права защищены.