ANSI/EIA 455-174:1988 Диаметр модового поля одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле - Стандарты и спецификации PDF

ANSI/EIA 455-174:1988
Диаметр модового поля одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле

Стандартный №
ANSI/EIA 455-174:1988
Разместил
American National Standards Institute (ANSI)
Последняя версия
ANSI/EIA 455-174:1988
сфера применения
Используйте некогерентный или когерентный источник, такой как вольфрамовая лампа накаливания, полупроводниковый светоизлучающий диод или лазерный диод, который производит достаточное излучение на предполагаемых длинах волн измерения. При необходимости для выбора длины волны можно использовать монохроматор или интерференционный фильтр(ы). Источник должен иметь стабильную интенсивность в течение периода времени, достаточного для проведения измерений. Длина волны источника должна быть указана в DetailSpecification. Номинальная ширина спектральной линии должна быть меньше или равна 10 нм полной ширины на половине высоты (FWHM),

ANSI/EIA 455-174:1988 История

  • 1970 ANSI/EIA 455-174:1988 Диаметр модового поля одномодового оптического волокна при остроконечном сканировании в дальнем поле



© 2023. Все права защищены.