DIN 50452-1:1995 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод испытаний для анализа частиц в жидкостях. Часть 1. Микроскопическое определение частиц. - Стандарты и спецификации PDF

DIN 50452-1:1995
Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод испытаний для анализа частиц в жидкостях. Часть 1. Микроскопическое определение частиц.

Стандартный №
DIN 50452-1:1995
Дата публикации
1995
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN 50452-1:1995-11
Последняя версия
DIN 50452-1:1995-11
заменять
DIN 50452-1:1988
сфера применения
Этот метод охватывает определение концентрации твердых примесей из жидкостей, выделенных на мембранном фильтре, путем микроскопического счета. Область применения ограничена размером частиц 5 мкм и более.

DIN 50452-1:1995 История

  • 1995 DIN 50452-1:1995-11 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод испытаний для анализа частиц в жидкостях. Часть 1. Микроскопическое определение частиц.
  • 1995 DIN 50452-1:1995 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод испытаний для анализа частиц в жидкостях. Часть 1. Микроскопическое определение частиц.
  • 0000 DIN 50452-1:1988



© 2023. Все права защищены.